依据《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温》（GB/T2423.1-2008）第1条，本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力，不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力。